Ces tampons de test et les points de test sont probablement utilisés dans différentes parties du processus de fabrication. Par exemple,
- Les points de test peuvent être utilisés pour les tests au niveau de la carte et les plages de test peuvent être utilisées pour les tests au niveau du système.. Ce sont des tampons de test conçus pour être utilisés avec un appareil de test pogo-pin, également connu sous le nom d'appareil de test du lit de clous. Ces luminaires sont dotés d'un ensemble de broches pogo de forme spéciale qui appuient et entrent en contact avec les plages de test de la carte testée..
- Ou, peut-être, les tampons de test sont utilisés pour la programmation et/ou le débogage du firmware, lorsque l'appareil testé est serré dans le support du lit de clous.
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